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    天津恒立远大请求一种高温度高压力射频导纳物位计探头专利处理现有射频导纳物位计探头因高温发生的坏处

    时间: 2025-04-01 16:52:08 |   作者: 华体汇app下载手机版安装

    金融界2024年12月26日音讯,国家知识产权局信息数据显现,天津恒立远大外表股份有限公司请求一

    产品简介

      金融界2024年12月26日音讯,国家知识产权局信息数据显现,天津恒立远大外表股份有限公司请求一项名为“一种高温度高压力射频导纳物位计探头”的专利,公开号CN 119178483 A,请求日期为2024年11月。

      专利摘要显现,本发明涉及物位检测的技术领域,详细供给一种高温度高压力射频导纳物位计探头,旨在处理现有射频导纳物位计探头现有射频导纳物位计探头中勘探导体因高温而发生的坏处。为此意图,本发明的射频导纳物位计探头包含壳体、绝缘隔热套管和勘探导体,绝缘隔热套管容置于壳体内且结尾从壳体伸出,绝缘隔热套管中空且结尾关闭;勘探导体包含绷簧,绷簧的结尾抵接于绝缘隔热套管。在勘探导体温度发生一些改变后,绷簧可以缩短或伸长,始终保持相同的长度,不可能影响射频导纳物位计探头的丈量准确度;别的,绷簧因气温改变而发生的伸长量和缩短量都可以转变为弹性势能,绷簧施加至绝缘隔热套管的作用力改变不大,不会损坏绝缘隔热套管。

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